易于使用的X射線技術
簡約新高度
一次掃描檢查隱藏結構
ZEISS METROTOM 1
借助易于使用的ZEISS METROTOM 1的CT技術，只需一次掃描，任何人都能有效完成復雜的測量和檢查任務。測量并檢測接觸式或光學測量系統無法檢測到的隱藏缺陷和內部結構。另一個巧妙之處在于ZEISS METROTOM 1的尺寸。由于體積小，CT掃描系統很容易便能放置于您的測量實驗室之中，可以一次性完成內部測量和檢查。
一個CT系統，兼具多種優勢
ZEISS METROTOM 1使用工業計算機斷層掃描技術，是升級您的質量檢查產品組合的理想設備。CT系統擁有許多優勢：
操作簡便
X射線易于使用
ZEISS METROTOM 1是以用戶為基礎建造的。安裝過程簡單，只需進行少量培訓就能使用CT。只需輕輕一點，即可開始掃描流程！
精準的測量
精準的X射線技術
小而徹底：您可以使用ZEISS Metrotom 1測量并評估完整的零件。這樣，您可以信賴您的測量，進行準確的數模比對、尺寸檢查和壁厚分析。
占地面積小
緊湊式CT系統
蔡司METROTOM 1非常緊湊。尺寸為1750 mm（長） x 1820 mm（高） x 870 mm（寬）。這意味著CT系統適合任何測量實驗室——可以讓您在公司內部進行測量和質量保證，而無需外部測量服務。
投資回報快
購置成本低，且得益于合宜的系統維護保養費用，您的設備持有將變得物超所值：ZEISS METROTOM 1的射線管無需維護保養。
ZEISS METROTOM 1——緊湊而可靠
先進的CT技術，用于所有測量實驗室
蔡司是CT技術領域的專家，十多年以來，其METROTOM系列一直在提供可靠的CT系統。蔡司計算機斷層掃描系統METROTOM 1現在為每個人都提供了可靠的X射線技術和無損質量保證。
測量完整組件、 確保零件無瑕疵
使用ZEISS METROTOM 1，您可以在您的測量實驗室里輕松檢測出工件的隱藏缺陷。無論是中型還是小型零件，是塑料還是輕金屬材質 - 使用ZEISS METROTOM 1，您可以檢查各種零件，如連接器、塑料蓋、鋁制零件等等。
GOM Volume Inspect
全面的3D CT數據分析
ZEISS METROTOM 1配有操作和檢測軟件GOM Volume Inspect（體積檢測）。軟件適合初學者使用，結合了CT流程的所有階段——從掃描設置和重建，到數據評估和報告。軟件可以精準地評估幾何形狀、孔隙或內部結構和裝配情況。即使是超小的缺陷也可以通過單個截面圖像看到，并且可以使用多種標準自動進行評估。只需一個軟件，您就可以將幾個組件的體積數據加載到項目中，執行趨勢分析，并將采集到的3D數據與CAD模型進行比較等等。
技術數據
使用蔡司，實現小而強大的功能
| X射線源 | 160 kV |
| X射線探測器 | 2.5 k |
| 測量容積 | 165 x 140 mm |
| 測量規格(MPE SD) | < 5 μm |
| 尺寸 | 1750 mm（寬） x 1820 mm（高） x 870 mm（厚） |
| 重量 | 2100 kg |
| 軟件 | GOM Volume Inspect體積檢測（已包含） |
應用領域：
無損檢測、一次掃描多個工件。
檢查特點：
測量內部和外部結構、檢查內部缺陷（如縮孔）。
